變壓器在試驗(yàn)過(guò)程中發(fā)生匝間、相間短路,或在運(yùn)輸過(guò)程中發(fā)生沖撞,造成線圈相對(duì)位移,以及運(yùn)行過(guò)程中在短路和故障狀態(tài)下因電磁拉力造成線圈變形,就會(huì)使變壓器繞組的分布參數(shù)發(fā)生變化,進(jìn)而影響并改變變壓器原有的頻域特征,即頻率響應(yīng)發(fā)生幅度變化和諧振頻點(diǎn)偏移等。
更新時(shí)間:2023-12-10 | 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家 |
瀏覽量:488 | 價(jià)格: |
廠家品牌:上海旺徐 | 訂貨量:≥1臺(tái) |
根據(jù)響應(yīng)分析方法研制開(kāi)發(fā)的SDPX-1變壓器繞組變形測(cè)試儀(頻響法)頻率響應(yīng)測(cè)試儀,就是這樣一種新穎的變壓器內(nèi)部故障無(wú)損檢測(cè)設(shè)備。它適用于63kV-500kV電力變壓器的內(nèi)部結(jié)構(gòu)故障檢測(cè)。
SDPX-1電力變壓器繞組變形檢測(cè)儀(頻響法)是將變壓器內(nèi)部繞組參數(shù)在不同頻域的響應(yīng)變化經(jīng)量化處理后,根據(jù)其變化量值的大小,頻響變化的幅度、區(qū)域和頻響變化的趨勢(shì),來(lái)確定變壓器內(nèi)部繞組度<程度,進(jìn)而可以根據(jù)測(cè)量結(jié)果判斷變壓器是否已經(jīng)受到嚴(yán)重破壞、是否需要進(jìn)行大修。
SDPX-1電力變壓器繞組檢測(cè)儀(頻響法)主要技術(shù)特點(diǎn)
△ 采集控制采用高速、高集成化微處理器
△ PC機(jī)與儀器之間USB通信接口
△ 硬件機(jī)芯采用DDS數(shù)字高速掃頻技術(shù),通過(guò)測(cè)試可以準(zhǔn)確診斷出繞組發(fā)生扭曲、鼓包、移位、傾斜、匝間短路變形及相間接觸短路等故障
△ 高分辨dB值測(cè)量,雙通道14位A/D(現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)改變分接開(kāi)關(guān),即有明顯輸出變化)
△ 信號(hào)輸出幅度可以軟件調(diào)節(jié),zui大幅度峰值±10V
△ 計(jì)算機(jī)將檢測(cè)結(jié)果生成頻響圖
△ 選用精密、高穩(wěn)定元器件,對(duì)同一相重復(fù)試驗(yàn),測(cè)量重復(fù)率在99.5%以上
△ 筆記本電腦和測(cè)量?jī)x器采用隔離電源供電,排除外界干擾
△ 儀器具有線性掃頻測(cè)量和分段掃頻測(cè)量雙測(cè)量系統(tǒng)功能,兼容當(dāng)前國(guó)內(nèi)兩種技術(shù)流派的測(cè)量模式
△ 幅頻特性符合國(guó)家關(guān)于幅頻特性測(cè)試儀的技術(shù)指標(biāo)。橫坐標(biāo)(頻率)具有對(duì)數(shù)分度,打印出對(duì)數(shù)分度曲線,用戶可根據(jù)實(shí)際需要打印報(bào)告
△ 檢測(cè)數(shù)據(jù)自動(dòng)分析系統(tǒng),橫向比較A、B、C三相之間進(jìn)行繞組相似性比較,其結(jié)果為:1、*性很好2、*性較好3、*性較差4、*性很差,比向比較A-A、B-B、C-C調(diào)取原數(shù)據(jù)與當(dāng)前數(shù)據(jù)同相之間進(jìn)行繞組變形比較,其結(jié)果為:1、正常繞組2、輕度變形3、中度變形4、嚴(yán)重變形
△ 變壓器繞組檢測(cè)儀(頻響法)*電力標(biāo)準(zhǔn)DL/T911-2004《電力變壓器繞組變形的頻率響應(yīng)分析法》的技術(shù)條件
SDPX-1電力變壓器繞組變形檢測(cè)儀(頻響法)主要技術(shù)參數(shù)
1、掃描方式:
儀器具備線性掃頻測(cè)量和分段掃頻測(cè)量雙測(cè)量系統(tǒng)
(1)線性掃描分布
掃頻測(cè)量范圍:(1kHz)-(1MHz)、1000掃頻點(diǎn)、分辨率為1kHz
(2)分段掃頻測(cè)量分布
掃頻測(cè)量范圍:(1kHz)-(100kHz)、1000掃頻點(diǎn);(100kHz)-(600kHz)、分辨率為1000Hz;(600kHz)-(1MHz)、分辨率為1000Hz
2、SDPX-1電力變壓器繞組變形檢測(cè)儀其他技術(shù)參數(shù)
△ 幅度測(cè)量范圍:(-100dB)-(+20dB)
△ 幅度測(cè)量精度:(-80dB)-(+20dB)±1dB
△ 掃描頻率精度:小于0.01%
△ 信號(hào)輸入阻抗:1MΩ
△ 信號(hào)輸出阻抗:50Ω
△ 同相測(cè)試重復(fù)率:99.5%